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鍍層測厚儀簡介

日期：2024-09-18 11:39
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摘要：
鍍層測厚儀簡介
　　鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。
　　隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。鍍層測厚儀它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用*廣泛的測厚儀器。
工作原理
　　鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的**次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

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